INDUSTRIE

Halbleiterfertigung
IC-Prüfung
Durch die Konzentration des optischen Strahls von Hochleistungslasern auf einen IC ist die Analyse von Defekten in komplexen integrierten Schaltkreisen möglich. Durch den Strahl werden lokale Ströme in der Schaltungsanordnung induziert.
Produkte: Single Frequente Laser Dioden
Weitere Industrie-Anwendungen | Empfohlene Produkte |
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Atomuhren | DFB-780-BFY-10mW, DFB-780-BFW-80mW, DFB-780-TOC-80mW DFB-795-BFY-15mW, DFB-795-BFW-40mW, DFB-795-BFW-80mW |
Kommunikation / Optische Speicherung | DFB-780 RWL-808-BFW02 |
Display | BAL-653 |
Gasdetektion | |
Beleuchtung | |
Interferometrie | |
Lidar | BAL |
Messtechnik | RWL-808-BFW02 |
Quantentechnologie | DFB-760 DFB-764 DFB-785 DFB-1064 RWS-785 RWS-1064 |
Raman-Spektroskopie | |
Single Frequency Laser Diodes | |
Thyristor Triggering | Multimode Laser Diodes |